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如何科學篩選電子元器件
07/23/2021
電(dian)子元器(qi)件(jian)需要采(cai)用嚴格科(ke)學(xue)有效(xiao)的方法進行(xing)篩(shai)選，并應選擇(ze)不(bu)同(tong)的模式，使其通(tong)過相關(guan)測試，以進一步(bu)提高在用電(dian)子元器(qi)件(jian)的可靠(kao)性。
電源老化方法：完整(zheng)的(de)電子元件似(si)乎沒有問(wen)題(ti)，但在實際使用過程(cheng)中會(hui)暴(bao)露出各種問(wen)題(ti)。
在(zai)一定的(de)(de)環境溫度下，它可以(yi)模擬電子元件的(de)(de)實際(ji)工作狀態，給元件添加一定的(de)(de)電應力，通過電應力的(de)(de)綜合作用加速元件內(nei)部(bu)的(de)(de)各種(zhong)物理化學反應，促進元件中隱藏的(de)(de)各種(zhong)缺陷盡快充分暴(bao)露，從而(er)消除(chu)早期失(shi)效(xiao)產品(pin)。
這(zhe)種方(fang)法可以有(you)效地消除制造過程中(zhong)可能存在的一些(xie)問題(ti)，例如引線焊接不良、漏電、硅片裂紋和(he)其他缺(que)陷，這(zhe)些(xie)缺(que)陷可以被精確篩選。對于(yu)沒有(you)問題(ti)的正常部(bu)件(jian)，老(lao)化也可以促進(jin)部(bu)件(jian)的電氣(qi)參數變得(de)穩定。
外觀(guan)(guan)和內(nei)部質(zhi)量檢(jian)查：外觀(guan)(guan)檢(jian)查和鏡面檢(jian)查主(zhu)要用于基本部件的外觀(guan)(guan)質(zhi)量檢(jian)查。
目視檢查是(shi)(shi)(shi)使(shi)用顯微鏡和放(fang)大(da)鏡檢查部件的外觀是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)有明顯損(sun)壞，例如導線是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)斷裂、骨架(jia)是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)損(sun)壞等，以及型號是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)匹配。對于電子元件的可調(diao)部件，檢查其(qi)是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)在調(diao)整范圍內，接觸點是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)良好，并將有上(shang)述問題(ti)或其(qi)他問題(ti)的部件拆下。
對于元件(jian)的內部檢(jian)查，鏡面檢(jian)查技術主要用于篩(shai)選芯片焊接、引線鍵合、包裝(zhuang)缺陷等。這種方法高效(xiao)簡單。
電源老化方法：完整(zheng)的(de)電子元件似(si)乎沒有問(wen)題(ti)，但在實際使用過程(cheng)中會(hui)暴(bao)露出各種問(wen)題(ti)。
在(zai)一定的(de)(de)環境溫度下，它可以(yi)模擬電子元件的(de)(de)實際(ji)工作狀態，給元件添加一定的(de)(de)電應力，通過電應力的(de)(de)綜合作用加速元件內(nei)部(bu)的(de)(de)各種(zhong)物理化學反應，促進元件中隱藏的(de)(de)各種(zhong)缺陷盡快充分暴(bao)露，從而(er)消除(chu)早期失(shi)效(xiao)產品(pin)。
這(zhe)種方(fang)法可以有(you)效地消除制造過程中(zhong)可能存在的一些(xie)問題(ti)，例如引線焊接不良、漏電、硅片裂紋和(he)其他缺(que)陷，這(zhe)些(xie)缺(que)陷可以被精確篩選。對于(yu)沒有(you)問題(ti)的正常部(bu)件(jian)，老(lao)化也可以促進(jin)部(bu)件(jian)的電氣(qi)參數變得(de)穩定。
外觀(guan)(guan)和內(nei)部質(zhi)量檢(jian)查：外觀(guan)(guan)檢(jian)查和鏡面檢(jian)查主(zhu)要用于基本部件的外觀(guan)(guan)質(zhi)量檢(jian)查。
目視檢查是(shi)(shi)(shi)使(shi)用顯微鏡和放(fang)大(da)鏡檢查部件的外觀是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)有明顯損(sun)壞，例如導線是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)斷裂、骨架(jia)是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)損(sun)壞等，以及型號是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)匹配。對于電子元件的可調(diao)部件，檢查其(qi)是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)在調(diao)整范圍內，接觸點是(shi)(shi)(shi)否(fou)(fou)良好，并將有上(shang)述問題(ti)或其(qi)他問題(ti)的部件拆下。
對于元件(jian)的內部檢(jian)查，鏡面檢(jian)查技術主要用于篩(shai)選芯片焊接、引線鍵合、包裝(zhuang)缺陷等。這種方法高效(xiao)簡單。